橢圓偏振測厚儀 橢圓偏振厚度分析儀 橢圓偏振厚度儀
簡要描述：橢圓偏振測厚儀(yi) 橢圓偏振厚度分析儀(yi) 橢圓偏振厚度儀(yi) ※ 測量範圍 1nm-300nm※ 測量Z小值 ≤1nm※ 入射角 30°- 90° 誤差≤0.1°※ 偏振器方位角讀數範圍 0°- 180°
產(chan) 品型號： BXS10-SGC-I
所屬分類：測厚儀(yi)
更新時間：2024-12-09
廠商性質：生產(chan) 廠家
詳情介紹
橢圓偏振測厚儀(yi) 橢圓偏振厚度分析儀(yi) 橢圓偏振厚度儀(yi)
型號:BXS10-SGC-I
橢圓偏振測厚儀(yi) 橢圓偏振厚度分析儀(yi) 橢圓偏振厚度儀(yi)
※ 測量範圍 1nm-300nm
※ 測量zui小值 ≤1nm
※ 入射角 30°- 90° 誤差≤0.1°
※ 偏振器方位角讀數範圍 0°- 180°
※ 度盤刻度 每格2度
※ 遊標zui小讀數 0.05°
※ 光學中心高度 152
※ 工作台直徑 ?70
※ 外形尺寸 730*230*290
※ 主機重量 20kg
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