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關(guan) 鍵詞：BXS05-TD-3500高辨率X射線衍射儀(yi)
X射線衍射儀(yi) 高辨率衍射儀(yi) 衍射分析儀(yi) 衍射儀(yi)
產(chan) 品介紹：
X 射線衍射儀(yi) 主要應用於(yu) 粉末、塊狀或薄膜樣品的物相定性、定量分析、晶體(ti) 結構分析、材料結構分析、晶體(ti) 的取向性分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等。
產(chan) 品特點：
整機采用可編程序控製器 PLC 控製技術；操作方便，一鍵式采集係統；模塊化設計，配件即插即用，無需校準；觸摸屏實時在線監測，顯示儀(yi) 器狀態；高功率 X 射線發生器，性能穩定可靠；電子鉛門聯鎖裝置，雙重防護，確保使用者安全。
技術參數：
掃描範圍：-110～161°；
掃描方式：透射、步進、連續、OMG；
最小步進角度：0.0001°；
2θ角重複精度：0.0001°；
全譜圖 2θ 角線性精度：≤±0.01°。
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