矽材料複合測試儀 矽材料複合分析儀 矽材料測試儀

矽材料複合測試儀(yi) 矽材料複合分析儀(yi) 矽材料測試儀(yi)  

型號:DL10-SZT-5

矽材料複合測試儀(yi) ，是由二種矽材料測試儀(yi) 器組合而成的

矽材料複合測試儀(yi) 矽材料複合分析儀(yi) 矽材料測試儀(yi)  

1，二量程的電阻測量儀(yi) 器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘範圍內(nei) 的半導體(ti) 材料。通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通矽材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正係數，對矽材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正係數為(wei) 4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。

ST512-SZT-5數字式四探針測試儀(yi) ，體(ti) 形小巧，操作方便，量程適中，十分適於(yu) 對重煉回料的分選。

2，整流法矽材料P-N極性判別儀(yi) ，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。矽材料進行極性判別

本儀(yi) 器工作環境條件為(wei) ：

　　溫　　度：18℃―25℃

相對濕度：50%－70%

工作室內(nei) 應無強電場幹擾，不與(yu) 高頻設備共用電源。

二，    技術參數

1,測量範圍

（1）電阻率測量：

電 阻 率 0.01-200Ω-cm

方塊電阻 0.01-200Ω-口

電 阻 0.01-200.0Ω

2,數字電壓表

(1)量 程 : 200mV單一量程

(2)誤 差: 讀數 ±0.2%±3字

(3)輸入電阻 : >10MΩ

3,恒 流 源

(1)電流輸出 0~10mA連續可調

(2)量 程 1mA, 10mA

(3)誤 差 ±0.2%±3字,

4,手持式四探針測試頭

(a)探 針 間 距:: 1mm

(b)探針機械遊移率: ±1.0%

(c)探 針 材 料: 碳化鎢,φ0.

(d)壓力: zui大 2Kg

（2）導電類型判別：

可對電阻率為(wei) 1000-.0.01歐姆/厘米的矽材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬於(yu) ”重摻”。