數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體四探針檢測儀
簡要描述：數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體(ti) 四探針檢測儀(yi) 測量範圍 電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω
產(chan) 品型號： DL10-1934B
所屬分類：測溫儀(yi) 表
更新時間：2024-12-07
廠商性質：生產(chan) 廠家
詳情介紹
數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體(ti) 四探針檢測儀(yi)
型號:DL10-1934B
數字式四探針測試計 四探針測試計 半導體(ti) 四探針檢測儀(yi)
測量範圍
電阻率：10-2～102Ω-cm；
方塊電阻：10-1～103Ω/□；
電阻：10-3～9999Ω
可測半導體(ti) 材料尺寸
直徑：Φ15～100mm；
長（或高）度： ≤400mm
外形尺寸
主機 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）
電源
功 耗：<1W；
電源適配器：
輸入:220V±10% 50Hz；
輸出:DC5V±10%
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