高溫四探針電阻率測試係統

高溫四探針電阻率測試係統 四探針雙電測定儀(yi) 雙電測數字式四探針測試儀(yi)

型號：BXA62

BXA62高溫四探針電阻率測試係統

一、概述：

采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率係統與(yu) 高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體(ti) 材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過的測控軟件可以顯示出溫度與(yu) 電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析導體(ti) 材料和半導體(ti) 材料質量的一種重要的工具。

二、適用行業(ye) ：

廣泛用於(yu) ：生產(chan) 企業(ye) 、高等院校、科研部門對導電陶瓷、矽、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定矽外延層、擴散層和離子注入層的方塊

電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率

和電導率數據.

三、功能介紹：

液晶顯示，無需人工計算，並帶有溫度補償(chang) 功能，電阻率單位自動選擇，儀(yi) 器自動測量並根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重複設置。采用高精度AD芯片控製，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，並保存和打印數據，自動生成報表；

本儀(yi) 器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度係數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求選購。雙電測數字式四探針測試儀(yi) 是運用直線或方形四探針雙位測量。

該儀(yi) 器設計符合單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩(liang) 次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響，它與(yu) 單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用於(yu) 斜置式四探針對於(yu) 微區的測試。