露點儀的測量原理

   1.電介法露點儀(yi) 的測量原理      

      利用五氧化二磷等材料吸濕後分解成極性分子，從(cong) 而在電極上積累電荷的特性，設計出建立在含濕量單位製上的電解法微水份儀(yi) 。目前國際上高精度達到±1.0℃(露點溫度)，一般精度可達到±3℃以內(nei) 。

2.電式露點儀(yi) 的測量原理

         采用親(qin) 水性材料或憎水性材料作為(wei) 介質，構成露點儀(yi) 電容或電阻，在含水份的氣體(ti) 流經後，介電常數或電導率發生相應變化，測出當時的電容值或電阻值，能知道當時的氣體(ti) 水份含量。建立在露點單位製上設計的該類傳(chuan) 感器，構成了電傳(chuan) 感器式露點儀(yi) 。目前國際上高精度達到±1.0℃(露點溫度)，一般精度可達到±3℃以內(nei) 。

  3. 鏡麵式露點儀(yi) 測量原理

不同水份含量的氣體(ti) 在不同溫度下的鏡麵上會(hui) 結露。采用光電檢測技術，檢測出露層並測量結露時的溫度，直接顯示露點。鏡麵露點儀(yi) 製冷的方法有：半導體(ti) 製冷、液氮製冷和高壓空氣製冷。鏡麵式露點儀(yi) 采用的是直接測量方法，在保證檢露準確、鏡麵製冷高效率和精密測量結露溫度前提下，該種露點儀(yi) 可作為(wei) 標準露點儀(yi) 使用。目前國際上*高精度達到±0.1℃(露點溫度)，一般精度可達到±0.5℃以內(nei) 。

4.晶體(ti) 振蕩式露點儀(yi) 的測量原理

利用晶體(ti) 沾濕後振蕩頻率改變的特性，可以設計晶體(ti) 振蕩式露點儀(yi) 。這是一項較新的技術，目前尚處於(yu) 不十分成熟的階段。國外有相關(guan) 產(chan) 品，但精度較差且成本很高。

5.半導體(ti) 傳(chuan) 感器露點儀(yi) 的測量原理

每個(ge) 水分子都具有其自然振動頻率，當它進入半導體(ti) 晶格的空隙時，受到充電激勵的晶格產(chan) 生共振，其共振頻率與(yu) 水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體(ti) 結放出自由電子，從(cong) 而使晶格的導電率增大，阻抗減小。利用這一特性設計的半導體(ti) 露點儀(yi) 可測到-100℃露點的微量水份。

6.紅外露點儀(yi) 的測量原理

利用氣體(ti) 中的水份對紅外光譜吸收的特性，可以設計紅外式露點儀(yi) 。目前該儀(yi) 器很難測到低露點，主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微量水吸收的量級，還有氣體(ti) 中其他成份含量對紅外光譜吸收的幹擾。但這是一項很新的技術，對於(yu) 環境氣體(ti) 水份含量的非接觸式在線監測具有重要的意義(yi) 。